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| 品牌 | ZEISS/蔡司 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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掃描電子顯微鏡
擁有高品質(zhì)成像和高級顯微分析功能的FE-SEM
蔡司Sigma系列產(chǎn)品集場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）技術(shù)與良好的用戶體驗于一體，可輕松實現(xiàn)成像和分析程序，提高工作效率。 您可以將其用于新材料和顆粒的質(zhì)量監(jiān)測，或用于生物和地質(zhì)樣品的研究。在高分辨率成像方面精益求精——采用低電壓，在1 kV或更低電壓下獲得更佳的分辨率和襯度。它出色的EDS幾何學(xué)設(shè)計可執(zhí)行高級顯微分析，以兩倍的速度和更高的精度獲取分析數(shù)據(jù)。
·Sigma 360是一款直觀的成像和分析FE-SEM，是分析測試平臺的理想之選。
·Sigma 560采用*的EDS幾何學(xué)設(shè)計，可提供高通量分析，實現(xiàn)自動原位實驗。
Gemini 1的光學(xué)系統(tǒng)
Gemini 1的光學(xué)系統(tǒng)由三個元件組成：物鏡、電子束推進(jìn)器和具有Inlens探測原理的探測器。其中，物鏡的設(shè)計將靜電場與磁場的作用力相結(jié)合，大大優(yōu)化光學(xué)性能的同時，降低了樣品所處的場影響。如此也可實現(xiàn)對磁性材料等具有挑戰(zhàn)性的樣品的高品質(zhì)成像。Inlens探測原理通過對二次電子（SE）和/或背散射電子（BSE）的探測來確保高效的信號檢測，同時大幅縮短獲取圖像的時間。電子束推進(jìn)器保證了小尺寸的電子束斑和高信噪比。
靈活探測
Sigma配備了一系列不同的探測器，通過新探測技術(shù)對您的樣品進(jìn)行表征。使用ETSE和Inlens探測器的高真空模式可獲取表面形貌的高分辨率信息。使用VPSE或C2D探測器的可變壓力模式可獲得清晰圖像。使用aSTEM探測器可進(jìn)行高分辨率透射電子成像。 采用不同的可選BSE探測器（如aBSD探測器）可以深入研究樣品的成分和表面形貌。
NanoVP lite模式
采用NanoVP lite模式進(jìn)行分析和成像，在低電壓條件下可獲得更高的圖像質(zhì)量，更快速地獲取更準(zhǔn)確的分析數(shù)據(jù)。
·在NanoVP lite模式下，裙邊效應(yīng)降低且入射束流的路徑長度（BGPL）減小。裙邊減小會提高SE和BSE成像的信噪比。
·帶有五段圓弧的伸縮式aBSD可提供出色的材料成分襯度：在NanoVP lite工作過程中，該探測器配備了安裝在極靴下方的束流套管，其可提供高通量及低電壓的成分和表面形貌高襯度成像，適用于可變壓力和高真空條件。
生命科學(xué)
了解更多有關(guān)原生動物或真菌的微觀和納米結(jié)構(gòu)信息，獲取切面樣品或薄片上的超微結(jié)構(gòu)。
地球科學(xué)與自然資源
探索巖石、礦石和金屬。
工業(yè)應(yīng)用
了解如何對金屬、合金和粉末進(jìn)行研究。
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